В октябре 2008 г. ВНИИМС подключился к работам по реализации ФЦП «Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008-2010 гг.» Причем не только по развитию приборно-инструментальной базы нанотехнологий в соответствии со специализацией института, но и по направлению «развития методической составляющей» этой инфраструктуры. Повышение точности и достоверности результатов, получаемых с помощью вновь создаваемого оборудования, требует создания метрологических комплексов для обеспечения единства измерений в сфере наноиндустрии. По этому направлению ВНИИМС в качестве соисполнителя ВНИИОФИ принимал участие в работах по созданию Центра метрологического обеспечения и оценке соответствия продукции наноиндустрии (ЦМО) и в рамках соответствующих госконтрактов выполнил значительный объем работ по созданию региональных отделений этого Центра в Центральном и Приволжском федеральных округах. Такие региональные отделения ЦМО были созданы и обеспечено их опытное функционирование.

Метрологический комплекс Повышение точности и достоверности результатов, получаемых с помощью вновь создаваемого оборудования, требует создания метрологических комплексов и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений в сфере наноиндустрии. подробнее		Прометей Проведены высокоточные эксперименты на различных типах рентгеновских дифрактометров материалов, выбранных для создания системы стандартных образцов на основе дифракционных свойств кристаллической решетки. подробнее
Калибровочный комплекс НАНО Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для измерений параметров рельефа и шероховатости поверхностей в нанометровом диапазоне подробнее		Центры Метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологий и продукции наноиндустрии Головное отделение (ВНИИОФИ) Отделение по ЦФО Отделение по ПФО