ВСЕРОССИЙСКИЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ МЕТРОЛОГИЧЕСКОЙ СЛУЖБЫ
-
О ВНИИМС
- Референтные группы ВНИИМС
- История ВНИИМС
- Бессметрный полк ВНИИМС
- Руководство
- Научные подразделения
- Диссертационный совет
- Научно-технический совет
- Эталонная база
- Свидетельства, аттестаты, лицензии
- Правоустанавливающие документы
- Противодействие коррупции
- О персональных данных
- Вакансии
- Аттестация научных работников
-
Направления деятельности
- Федеральный информационный фонд по обеспечению единства измерений
- Разработка и сопровождение ФГИС "АРШИН"
- Электронный реестр подведомственных организаций Росстандарта, осуществляющих оценку состояния измерений в лабораториях
- Мониторинг и прогнозирование состояния системы ОЕИ
- Единый центр проверки результатов испытаний средств измерений
- Фундаментальные исследования
- Государственная служба стандартных справочных данных
- Подготовка метрологов. Аспирантура
- Научно-методический центр и исполнительный орган системы калибровки РСК
- Прикладные исследования и метрологическое обеспечение деятельности предприятий
- Научно-методический центр и Исполнительный орган Системы оценки и подтверждения компетентности в осуществлении метрологического надзора
- Редакционно-издательская деятельность
- Технический комитет по стандартизации - ТК 053
-
Метрологические услуги
- Испытания средств измерений
- Поверка средств измерений
- Калибровка средств измерений
- Метрологическая экспертиза документации
- Разработка и аттестация методик измерений
- Разработка и внедрение ССД, разработка и аттестации методик ГСССД
- Аттестация эталонов единиц величин
- Системы добровольной сертификации
- Аттестация испытательного оборудования
- Международные сертификаты калибровки CIPM MRA
- Разработка концептуальных (программных) документов по ОЕИ
- Разработка специализированного программного обеспечения в области метрологии для участников деятельности по ОЕИ всех уровней
- Экспертные работы в области разработки информационного и прикладного программного обеспечения для ОЕИ
- Оценка состояния измерений в лабораториях в соответствии с МИ 2427-2022 ГСИ
- Международное сотрудничество
- Пресс центр
- Контакты
Содержание ЗиПМ №2-2020 г.
| СЛОВО ГЛАВНОГО РЕДАКТОРА | |
|
Этих дней не смолкнет слава! Л. К. Исаев |
2 |
| ОБЩИЕ ВОПРОСЫ МЕТРОЛОГИИ | |
|
Методические рекомендации по разработке правил принятия решений
в контексте требований ГОСТ ISO/IEC 17025-2019 |
3 |
|
Guidelines for developing decision-making rules in the context
of the requirements of GOST ISO/IEC 17025-2019 |
|
|
Е.Н. Савкова |
|
|
Немецко-российский семинар по вопросам метрологии
цифровой экономики |
12 |
|
German-Russian Seminar on Metrology for the Digital Economy |
|
|
А. В. Яшин |
|
| МЕТРОЛОГИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ | |
|
Новая государственная поверочная схема
для средств измерений уровня жидкости и сыпучих материалов |
14 |
|
A new State Verification Scheme applied for measurement of the level of liquid and bulk materials |
|
|
В.Ш. Биккулов, А.В. Кондаков |
|
| ПРАКТИКА И ПРОБЛЕМЫ | |
|
Обеспечение качества автоматизированных систем в метрологии: уровень производительности |
18 |
|
Quality assurance for metrological automated systems: level of performance |
|
|
А.А. Николаев |
|
| Риск-ориентированный подход к результатам измерений | 21 |
|
Risk-oriented approach to the measurement results |
|
|
Г.П. Воронин, О.М. Розенталь |
|
| КАЛИБРОВОЧНЫЕ И ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ ВОЗМОЖНОСТИ | |
|
Методические аспекты повышения точности измерения удельной теплоемкости дифференциальными сканирующими калориметрами |
24 |
|
Methodological aspects of improving the measurement accuracy of specific heat capacity using differential scanning calorimeters |
|
|
Т.А. Компан, В.И. Кулагин, В.В. Власова |
|
|
Совершенствование метрологической прослеживаемости измерений мер толщины полупроводниковых покрытий |
30 |
|
The improvement of metrological traceability of measurement results of semi-conductor coating thickness measures |
|
|
С.С. Голубев, Л.С.Бабаджанов, М.Л.Бабаджанова |
|
| КАЛИБРОВОЧНЫЕ И ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ ВОЗМОЖНОСТИ | |
|
Частотный метод измерения длины волны монохроматического источника излучения света |
42 |
|
The frequency method used for measurement of the wavelength of a monochromatic light source |
|
|
Л.С. Бабаджанов, М.Л. Бабаджанова |
|
| МЕТРОЛОГИЯ И ЭКОНОМИКА | |
|
Экономика и метрология в рамках технологических укладов. Ч. 5. Четвертый технологический уклад (1930-1980 годы) |
34 |
|
Economy and metrology development in the framework of technological set-ups. Part Five. The fourth technological set-up (1930-1980) |
|
|
А.П. Чирков, А.А. Чирков |
|
| МЕЖДУНАРОДНОЕ СОТРУДНИЧЕСТВО | |
| Всемирный День Метрологии: 20 лет | 41 |
|
World Metrology Day: 20 years |
|
|
Г.В. Битюкова, С.В. Комиссаров |
|
| МЕТРОЛОГИ РАЗМЫШЛЯЮТ | |
|
О метрологическом менталитете: калибровка и дефинитивная неопределенность |
46 |
|
On metrological mentality: calibration and definitional uncertainty |
|
|
C.Ф. Левин |
Поделиться:
