8 июля в Москве состоялась встреча специалистов ВНИИ метрологической службы с учеными  Хефейского технологического университета Китайской народной республики.  

Диалог с представителями китайской делегации поддержали сотрудники отдела метрологического обеспечения измерений геометрических параметров.  

Ученые Хефейского технологического университета продемонстрировали результаты своих исследований в области моделирования и поверки микро- и нано- датчиков для координатно-измерительных машин и обсудили с российскими коллегами возможность их применения в целях совершенствования метрологического обеспечения измерений геометрических параметров поверхностей сложной формы. В свою очередь российские специалисты познакомили китайских коллег с перспективными разработками в области измерений геометрических параметров шероховатости, формы и расположения поверхностей на базе лабораторий института.

По итогам встречи стороны выразили взаимную заинтересованность в научном сотрудничестве и обмене результатами исследований.